Projektdaten
Neue Metrologische Basis höchster Präzision (MetroBase)
Fakultät/Einrichtung
Zentrum für Mikro- und Nanotechnologien
Förderkategorie
Stiftungen
Drittmittelgeber
Carl-Zeiss-Stiftung
Bewilligungssumme, Auftragssumme
1.000.000,00 €
Abstract:
Das Ziel des Projektes ist im speziellen die Schaffung einer neuen metrologischen Basis, um die Forschung auf dem ausgewiesenen Gebiet der Nanopositionier- und Nanomessmaschinen auf ein qualitativ neues Level zu heben. Dazu soll die Frequenzkamm-Technologie als neue Schlüsselkomponente an der TU Ilmenau etabliert und synergetisch mit dem hohen Stand der Nanopositionier- und Nanomesstechnik verbunden werden, um somit die Forschung auf höherem Niveau nachhaltig fortführen zu können.