Projektdaten

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Kombinatorische Hochdurchsatz-in-situ-Nano-Diagnostik für die Sensorik (Hochdurchsatz-in-situ-Rasterelektronenmikroskop – REM)

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„KombiSens“ zielt auf eine fortschrittlichen in situ Diagnostik von Sensorwerkstoffen und Sensorsystemen im Mikro- und Nanometerbereich. Der Aufbau einer in situ Diagnostik im Elektronenmikroskop soll durch eine lokalisierte und ortaufgelöste Gaszuführung und entsprechende sensorische Messtechnik erweitert werden. So kann ein hoher Probendurchsatz und kombinatorische Untersuchungsmethoden für die schnelle Entwicklung von neuartigen Werkstoffsystemen ermöglicht und Digitalisierung und machine learning auch in die Sensorik vorangetrieben und eine technologische Spitzenstellung erreicht werden.